玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质.pdfVIP

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2023-04-22 发布于北京
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玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质.pdf

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本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质，包括：计算玉米横截面图像的圆心和半径，在B通道图中将单个横截面等分成多个同心圆环，从外向内逐个遍历圆环，当某圆环内的灰度值均值大于此横截面的灰度值均值时，此圆环中间圆即为得到的轴线，在G减B通道结果图中，根据上述方式，当某圆环内的灰度值均值小于此横截面的灰度值均值时，此圆环中间圆即为得到的胚栽入线，根据轴线和胚栽入线得到得到胚尖位置线，在二值图中利用玉米横截面一周籽粒的凹凸特性，分析得出籽粒的个数和位置。本

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113935991 B (45)授权公告日 2022.04.29 (21)申请号 202111517112.0 G06T 7/11 (2017.01)