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- 2023-04-24 发布于北京
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一种SPICE电压或温度扫描仿真筛选瓶颈单元的方法，包括以下步骤：1）从原始时序路径数据集中筛选出STA时序违例的时序路径数据子集；2）对所述时序路径数据子集的每一路径进行SPICE仿真，筛选出关键路径集；3）对所述关键路径集的元素进行降序排列；4）从元素进行降序排列的关键路径集中获取时序分析对象集；5）从所述时序分析对象集中获取实例单元集合；6）获取InstanceCells的趋势特征综合指标；7）根据趋势特征综合指标，构建时序敏感的时序单元集。本发明的方法，结合STA和SPICE仿真，筛选
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114021514 A
(43)申请公布日 2022.02.08
(21)申请号 202111417780.6
(22)申请日 2021.11.26
(71)申请人 北京华大九天科技股份有限公司
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