测试探针.pdfVIP

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  • 2023-04-25 发布于北京
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本发明公开了一种测试探针,包括测试针头和连接针轴;所述测试针头由检测部和与所述检测部连接的连接轴部组成,所述连接针轴包括第一连接件,所述第一连接件的第一端设置有匹配所述连接轴部的插接孔,所述连接轴部插入所述插接孔中以使所述连接轴部和所述连接针轴导通;所述测试针头的材质为钯合金。本发明的测试探针,能有效降低了测试探针的制造成本,且有利于保持了测试针头和待测工件的接触稳定性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114062737 A (43)申请公布日 2022.02.18 (21)申请号 202111573574.4 (22)申请日 2021.12.21 (71)申请人 东莞中探探针有限公司

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