老化电路、芯片老化测试方法及芯片.pdfVIP

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2023-04-26 发布于四川
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老化电路、芯片老化测试方法及芯片.pdf

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本申请公开了一种老化电路、芯片老化测试方法及芯片。该老化电路包括：随机数发生模块，根据模式信号生成老化图形；以及扫描链模块，至少根据模式信号将老化图形发送至待测电路，其中，随机数发生模块在接收到有效状态的模式信号之后，生成随机数，并根据随机数生成随机的老化图形。该老化电路降低了老化板硬件开发成本，并且提供了随机的老化图形，使得所有的图形组合都有机会被施加到待测电路，即待测电路中的所有逻辑结构都有机会被图形遍历到，保证了老化测试覆盖率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114076883 A (43)申请公布日 2022.02.22 (21)申请号 202111327774.1 (22)申请日 2021.11.10 (71)申请人北京中电华大电子设计有限责任公