一种半导体光学检测设备用分类装置.pdfVIP

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2023-04-27 发布于北京
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一种半导体光学检测设备用分类装置.pdf

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本发明公开了一种半导体光学检测设备用分类装置，包括：底座；升降臂，其固定于所述底座上，且具有一竖向移动端；第一转臂，其固定于竖向移动端，且第一转臂的另一端转动设置有第二转臂，所述第二转臂的另一端转动设置有第三转臂，所述第三转臂的另一端转动设置有连接臂；升降调节组件，其设置所述连接臂的另一端，且所述升降调节组件具有一竖向调节端；柔性吸附组件，其设置于竖向调节端；传送组件，其设置于底座上，且位于柔性吸附组件的下方；以及接收组件；且，分类时，利用柔性吸附组件选择性的从传送组件上吸附半导体部件，且由接收

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114146949 A (43)申请公布日 2022.03.08 (21)申请号 202111558373.7 (22)申请日 2021.12.20 (71)申请人苏州肯美特设备集成有限公司