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特殊检测包括红外热普检测,X射线检测,放射性检测等 可靠性测试之寿命试验 JESD47 5年 4年 11年 10年 大纲 1.可靠性定义 2.可靠性试验分类 3.加速寿命试验 4.小结 5.附录 1.可靠性定义 1.日本工业标准(JIS)对此的定义: The probability that an item will perform a required function under specified conditions for a specified period of time. 2.可靠性有广义和狭义两种解释: 广义:产品在其整个寿命周期内完成规定功能的能力,包括狭义可靠性和维修性。 狭义:产品在规定条件下和规定时间内,完成规定功能的能力。 3.狭义可靠性的四重意思: 1)产品的可靠性与“规定的条件”分不开; 2)产品的可靠性与“规定的时间”密切相关; 3)产品的可靠性与“规定的功能”息息相关;所谓功能指产品的技术指标或者技术要求 4)产品的可靠性是指产品在规定时间内完成规定功能的可能性大小,从数学角度看就是表示一种概率。 2.可靠性试验分类 1.可靠性试验按试验地点和试验方式不同分:现场试验和模拟试验。实验室进行的试验多属于模拟试验。 2.可靠性试验按试验项目一般又分为:1)寿命试验;2)环境试验;3)特殊检测试验;4)现场使用试验。 3.寿命试验一般又分为: 1)长期寿命试验:长期贮存寿命和长期工作寿命(包括静态和动态); 2)加速寿命试验: a.恒定应力加速寿命试验 b.步进应力加速寿命试验 c.序进应力加速寿命试验 4.寿命试验是可靠性试验中最重要、最基本的内容之一。它是将样品放在特定的试验条件下,测量其失效(损坏)随时间的分布情况。利用次序统计量理论来分析得到的试验数据,可确定产品的寿命特征、失效分布规律,并可以通过计算得到其失效率和平均寿命等可靠性指标。 3.加速寿命试验 1.失效率和平均寿命 失效率:指产品工作到t 时刻后单位时间内发生失效的概率。单位Fit,1Fit=10-9/h。 平均寿命:对可维修和不可维修的产品有不同的定义。 可维修的产品,指两次相邻故障间的时间,而不是产品报废时间。一般用MTBF(Mean Time Between Failure)来表示; 对不可维修的产品,指产品丧失规定功能前的时间,用MTTF(Mean Time To Failure)来表示。电子器件属于不可维修产品,所以用MTTF表示其平均寿命。 我国有可靠性指标的电子元器件按失效率大小分为七个等级: 3.加速寿命试验 2.浴盆曲线: 早夭期的失效率分布函数与m1的威布尔(Weibull)分布函数所描述的曲线一致; 偶然失效期产品的失效规律符合指数分布规律,与m=1时的威布尔分布函数所描述的函数一致。亦称阿伦尼斯(Arrhenius)模型。 3.加速寿命试验 3.加速寿命试验: 是在不改变失效机理的前提下,用提高应力的方法,使元器件或材料加速失效,以便在较短的时间内取得加速情况下的失效率、寿命等数据,然后推算出在正常状态(额定或实际使用状态)应力条件下的可靠性特征量。 A B C 3.加速寿命试验 4.加速寿命试验的模型: 1)威布尔分布:是瑞典科学家威布尔从材料强度的统计理论推导出来的一种失效分布函数,是可靠性分布中最常用、最复杂的一种分布。 2)阿伦尼斯方程:是威布尔分布的一种特殊情况,即当其形状参数m 为1时的形式。此时的失效率分布符合指数分布规律。它是假设热应力(温度)是使元器件或材料的性能参数劣化(或退化)失效的主要原因。温度为电子(或两种分子)客服不同能级间的势垒提供能量,从而加速器件或材料的物理/化学反应。 3)一般电子元器件大多数是由温度应力导致的失效,这是加速寿命试验最常使用阿伦尼斯模型的根本。 这里:L代表器件的平均寿命;A为常数;Ea代表活化能;K是波尔兹曼常数;T为温度。 3.加速寿命试验 5.阿伦尼斯方程(1): 可以通过对阿伦尼斯方程变形得到加速因子: 则已知加速测试寿命时间为τs的情况下,可根据公式快速求出器件在某正常温度下的工作寿命τO 。: 例:器件在150℃工作了1000个小时(假設無失效),问器件可在55℃下工作多久?假设活化能0.7eV。 解: τO = τs * AF = 1000 *EXP{(0.7/8.617x10-5) x [1/(273+55)-1/(273+150)]} =1000 * 260 = 260000(小时)= 27.6 (年) 3.加速寿命试验 6.阿伦尼斯方程(2): 通过失效率计算电子元器件的平均寿命: 1)指数分布的失效率为恒定值,且与时间无关。 2)指数分布的平均
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