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对 FPGA 的 IQ 调制邻道功率问题分析
(一)、测试条件
IQ 联调测试结果
一、MG3700A-IQ 信号源与 RF 板 IQ 联调
1、IQ 信号由MG3700A-IQ 信号源提供。
2、测试仪器:综测仪HP8921A
3、利用DMR4-RF 板 IQ 电路调试。
4、本振信号由综测仪提供。
(二)、测试电路
IQ信源
IQ
信
源
RF
测试仪
本振
图 1
2、 RF 板上的 IQ 直流偏置电路:
图 2
参数取值:RN401=1K C450=C451=0.018uF RN402=3.3K C485=C486=0.01uF RN404=1K
RN403=NC
*RN403 实际上是IQ 信号源的内阻
(三)、测试结果(3 号射频板)
① 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 2.2KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
2.18
D(%)
1.7
ACP(dB)
-68.35/-67.60
VDC(V)
3.70
Vpp(mV)
386
A(dBm)
-6.88
表 1
② 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 4.2KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
4.33
D(%)
1.9
ACP(dB)
-74.07/-74.34
VDC(V)
3.71
Vpp(mV)
338
A(dBm)
-6.88
表 2
说明:在本文中各符号的意义:
1、Δ f 表示调制频偏
2、D 表示调制失真度
3、ACP 表示邻道功率
4、VDC 表示IQ 信号的直流偏置电压
5、VPP 表示输入到IQ 调制器的 IQ 信号幅度大小(峰峰值)
6、A 表示调试输出的射频信号幅度大小
二、FPGA 与 RF 板 IQ 联调
(一)、测试条件
1、IQ 信号由FPGA 板提供。
2、测试仪器:综测仪HP8921A
3、利用DMR4-RF 板 IQ 电路调试。
4、本振信号由综测仪提供。
(二)、测试电路
1、测试电路连接示意图
图 3
2、IQ 直流偏置电路
图 4
参数取值:RN401=1K C450=C451=0.018uF RN402=3.3K C485=C486=0.01uF RN404=1K
RN403=NC
*RN40 实际上是 820 欧姆,只是在FPGA 板上没有焊接在RF 板上。
(三)、测试结果
1、IQ 四路信号进入射频板之前,在FPGA 板上无滤波
① 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 2.5KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
2.47
D(%)
1.8
ACP(dB)
-56.37/-55.39
表 3
② 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 4.2KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
4.29
D(%)
2.7
ACP(dB)
-70.11/-70.44
A(dBm)
-9.35
表 4
2、IQ 四路信号进入射频板之前,在FPGA 板上有滤波,C=0.012uF
(3 号板射频板)
① 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 2.5KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
2.49
D(%)
2.1
ACP(dB)
-58.51/-58.13
A(dBm)
-9.57
表 5
② 条件:采样速率 8.4MHZ,测试频点 450MHZ,输入 0 dBm。调制信号 1KHZ,调制频偏 4.2KHZ。
Δ
Δ f(KHZ)
4.28
D(%)
1.7
ACP(dB)
-69.96/-69.77
A(dBm)
-10.62
表 6
FPGA 板上的滤波C=0.018uF 时,
Δ f(KHZ) D(%) ACP(dB)
A(dBm)
VDC(V) Vpp(Mv)
2.48 2.3 -60.39/-60.24
-9.28
4.04 251
表 7
问题
FPGA 与射频板联调后,输出信号的邻道明显没有IQ 信号源的邻道好,
FPGA:-56.37/-55.39(窄带)
IQ 信号源:-68.35/-67.60(窄带)
要改善 FPGA 板联调的结果,可在射频板和 FPGA 板上加入滤波对邻道会有改善,可基本满足要求,但满足了窄带的邻道,宽带调制失真会变大。
但为什么两者的结果会有所不同,以下进行分析查找。
原因分析
1、输入到IQ 调制器的信号大小
2、IQ 信号的直流电平
3、IQ 基带信号质量
具体验证过程
1、IQ 信号大小影响
实验时的数据:
与 FPGA 联调时,250mV 左右与 IQ 信源联调时,380mV 左右
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