一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法.pdfVIP

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2023-05-04 发布于北京
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一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法.pdf

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本发明涉及一种半导体激光器用COS光斑扎测装置及扎测方法，属于激光器材料技术领域，包括基架，基架中设有热沉底座，基架一侧设有扎测针，扎测针两侧设有摄像头和收光板；热沉底座上设有待扎测的带芯片热沉，带芯片热沉包括横梁架、热沉块和芯片，横梁架上排列设置热沉块，热沉块顶部放置芯片，热沉底座沿基架竖向运动。本发明弥补了关于COS光斑自动扎测的空白，解决了手动模式下一人只能用一台设备的问题，节约大量的人工，而且通过设备高清CCD摄像头分档，提高了产COS光斑扎测的一致性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114264450 A (43)申请公布日 2022.04.01 (21)申请号 202010973105.0 (22)申请日 2020.09.16 (71)申请人山东华光光电子股份有限公司