一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC芯片.pdfVIP

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2023-05-07 发布于北京
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一种多速率可调节采样率频率的测量ASIC芯片.pdf

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本发明公开了一种多速率可调节采样率频率测量ASIC芯片，包括：周期计数模块，用于将被测硅微谐振式加速度计的模拟振荡信号F同步到晶振提供的基准时钟clk，用基准时钟对同步后的模拟振荡信号进行计数后输出计数值N；非线性补偿模块，用于将计数值N转化为和频率的平方成正比的定点数M，然后和输入振荡信号F对齐，后输出对齐后的定点数Dout；任意采样率调节模块，用于调节输出定点数Dout的采样率，实现任意采样率的输出最终的定点值Dout3；数字接口模块，用于和上位机通信，包括配置寄存器和将数据输出到上位机。本

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114384405 A (43)申请公布日 2022.04.22 (21)申请号 202111573227.1 (22)申请日 2021.12.21 (71)申请人南京理工大学地址