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一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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一种泛电子领域自动光学检测设备的标定方法.pdf

    泛电子领域自动光学检测设备的标定一般采用Z轴锁定的标定方法，由于轨道平面存在装配误差，无法保证其与相机的焦平面完全平行，因此该标定方法存在Z方向误差，导致整个标定范围内相机的分辨率不一致，降低了设备的检测精度。本发明提出了一种通过Z轴自适应调整的标定方法。首先标定相机的内参，然后将相机移动到指定位置拍照并计算该位置的外参、工作距离和分辨率，通过PID控制调整Z轴位置，来保证该位置的实际分辨率与期望分辨率近似。后续检测定位中，若检测位置在标定的位置，使用标定位置的外参进行坐标映射；若不在标定的位置

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114519747 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202210186779.5 (22)申请日 2022.02.28 (71)申请人 嘉兴市像景智能装备有限公司 地址

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