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一种芯片测试系统及方法.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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一种芯片测试系统及方法.pdf

    本申请公开了一种芯片测试系统及方法，其中，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518520 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202111683173.4 (22)申请日 2021.12.31 (71)申请人 中国科学院深圳先进技术研究院 地址

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