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本发明公开了一种ATE测试通道的自诊断方法，包括如下步骤：S01：将测试通道排序后分为奇数测试通道和偶数测试通道，配置奇数测试通道和偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL不同；S02：奇数测试通道和偶数测试通道的发送端同时发送相同的数据信号，且各个测试通道的接收端接收其发送端所发送的数据信号，根据接收的数据信号判断对应测试通道是否正常。本申请无需诊断单板作为接受端，可以快速诊断测试通道的基础信号收发功能，可以有效检测相邻测试通道的短路
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114527422 A
(43)申请公布日 2022.05.24
(21)申请号 202210157357.5
(22)申请日 2022.02.21
(71)申请人 上海御渡半导体科技有限公司
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