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本发明公开了一种支持多种天线极化的微波暗室测向测试的装置及方法，属于电子技术领域，包括发射天线、功率放大器、极化转台、方位转台、极化转台控制器、方位转台控制器、信号源、控制计算机；控制计算机与极化转台控制器、方位转台控制器、信号源和被测电子产品分别建立总线信号控制连接，信号源与功率放大器建立射频信号连接，功率放大器与发射天线建立射频信号连接；极化转台控制器与极化转台建立驱动信号连接，在极化转台上安装有发射天线；方位转台控制器与方位转台建立驱动信号连接，在方位转台上安装被测电子产品。本发明具有准确
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114113700 A
(43)申请公布日 2022.03.01
(21)申请号 202111343043.6
(22)申请日 2021.11.12
(71)申请人 中国电子科技集团公司第二十九研
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