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一种微波材料损耗角正切tanδ测试方法.pdfVIP

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  • 2023-05-11 发布于四川
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一种微波材料损耗角正切tanδ测试方法.pdf

    本发明公开了一种微波材料损耗角正切tanδ测试方法。该方法采用高低温介电性能测试系统对测试样品的损耗角正切tanδ进行测试；一、将第一金属接地板、测试样品、谐振导带、第二金属接地板依次放入样品夹具内，二、然后将装配好的样品夹具整体放入带状线谐振腔体中，三、介电常数、损耗因子测量，四、介电常数计算，五、损耗因子计算。采用本发明进行损耗角正切tanδ测试，当损耗角正切tanδ≤0.0020时，不确定度≤0.0003，当损耗角正切tanδ＞0.0020时，不确定度≤10%tanδ+0.0003。提高了

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114578140 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202210164209.6 (22)申请日 2022.02.23 (71)申请人 中国电子科技集团公司第四十六研

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