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一种芯片测试方法和测试系统.pdfVIP

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  • 2023-05-11 发布于四川
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一种芯片测试方法和测试系统.pdf

    本申请涉及电子技术领域，特别涉及一种芯片测试方法及测试系统。该方法用于对待测芯片中预设数量的测试信号进行测试，包括：确定芯片中用于测试的输出端口的个数和每一个输出端口所需输出的测试信号的数量；在芯片内部设置与每一个测试输出端口对应的标记信号；针对每一个测试输出端口，基于芯片内部设置的并串信号转换器，根据时钟信号按照预设采样频率对测试输出端口所需输出的测试信号和对应的标记信号进行采样，将得到的串行信号从测试输出端口输出；利用可编辑逻辑器件将接收到的串行信号进行恢复，得到预设数量的测试信号，利用逻辑

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114578212 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202210211437.4 (22)申请日 2022.02.28 (71)申请人 集睿致远（厦门）科技有限公司 地址

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