一种主板测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-11 发布于四川
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一种主板测试方法、装置、设备及存储介质.pdf

本发明涉及一种主板测试方法、装置、设备和存储介质,所述方法包括步骤:根据主板电压测试任务创建测试线程;调用第一测试用例对主板进行一次电压测试、并生成第一电压测试结果;若第一电压测试结果异常,则根据电压测试条件、主板信息对主板进行缺陷修复;缺陷修复完成后,再次调用第一测试用例对主板进行二次电压测试、并生成第二电压测试结果;若第二电压测试结果正常,则调用与第一测试用例相关联的至少一个第二测试用例、对主板进行三次电压测试,生成第三电压测试结果;根据第三电压测试结果判断缺陷修复后的主板是否正常。通过上述

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114578210 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202210178106.5 (22)申请日 2022.02.25 (71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司 地址 2

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