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- 2023-05-12 发布于四川
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本发明提供了一种表面离子阱囚禁电场空间分布的测量方法，包括：向所述离子阱电极施加激励信号；通过包括带电探针组件的原子力显微测量模块对所述离子阱的电极表面进行扫描，其中，所述带电探针组件配置成与扫描对象表面的电场发生相互作用，并诱导所述带电探针组件发生偏转或振荡状态变化；通过所述原子力显微测量模块的光学系统检测所述带电探针组件的状态变化，以确定所述离子阱囚禁电场的空间分布情况。本发明所提供的离子阱囚禁电场分布的测量方法，支持基于原子力显微术对表面离子阱囚禁电场的空间分布进行直接测量，消除了理论计算
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116047114 A
(43)申请公布日 2023.05.02
(21)申请号 202310013832.6
(22)申请日 2023.01.05
(71)申请人 北京量子信息科学研究院
地址 1
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