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一种基于深度信息的粒径分析方法及检测系统.pdfVIP

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  • 2023-05-13 发布于四川
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一种基于深度信息的粒径分析方法及检测系统.pdf

    本发明提供了一种基于深度信息的粒径分析方法，包括以下内容：(1)采用深度传感器，获取颗粒区域的距离矩阵，并计算得到差分矩阵；(2)以最大颗粒粒径的2倍尺寸，构造一个粒径模板；(3)采用粒径模板对差分矩阵进行覆盖式扫描；(4)对粒径模板的覆盖区域进行边缘轮廓提取；(5)计算封闭轮廓的尺寸，作为已标注的颗粒粒径。本发明利用颗粒的深度信息而不是色彩信息来提取颗粒边缘，不受颗粒色差和纹理的影响；另外，将整个距离矩阵的边缘轮廓提取，分解为以粒径模板为范围局部计算，可以有效提高颗粒边缘检测的完整性和准确率。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114646577 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202210249032.X (22)申请日 2022.03.09 (71)申请人 荣托昆普（无锡）科技有限公司 地址

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