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本发明公开了一种全自动微米级透明薄膜流延卷绕端面平齐控制装置，包括薄膜检测装置、控制单元和卷膜执行机构，所述薄膜检测装置中并行设置有校正电容和检测电容，所述检测电容的任一极板上设置有检测基准线，校正电容的两极板之间设置有薄膜通道，所述薄膜检测装置通过所述校正电容和检测电容与所述控制单元电连接，所述控制单元与所述卷膜执行机构电连接，具有薄膜收卷平齐，可对不同厚度不同介质种类的薄膜可以连续生产的有益效果。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113636393 A
(43)申请公布日 2021.11.12
(21)申请号 202110750171.6 B65H 18/02 (2006.01)
(22)申请日 2
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