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一种光学元件体缺陷的提取方法.pdfVIP

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  • 2023-05-16 发布于四川
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一种光学元件体缺陷的提取方法.pdf

    本发明公开了一种光学元件体缺陷的提取方法，包括：(1)采用两台激光光源发出光线，分别经过分光镜和反射镜，照射光学元件内部，经过内部体缺陷散射后在CCD处成像；(2)针对光学元件内不同层次扫描得到的体缺陷二维图像，计算相邻两层之间光斑外接矩形的交并比，判断是否为同一个体缺陷；(3)进行预处理，并设置灰度阈值进行二值化；(4)划分感兴趣区域，并建立滑窗对其遍历进行逐点扫描；(5)计算滑窗处的清晰度，对实验中光斑图案进行判别并去除不清晰部分；(6)结合附近层次体缺陷扫描二维图像计算亮斑的外接矩形长宽比

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 111899215 A (43)申请公布日 2020.11.06 (21)申请号 202010543080.0 G01N 21/88 (2006.01)

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