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                本发明涉及光学检测技术领域,具体地提出一种光学系统点扩散函数椭率测量方法。该方法通过平行光管和待测光学系统搭建星点目标成像光路,且同步在光学仿真软件中构建与实际光路光学参数一致的模拟光学系统,包含模拟平行光管和模拟待测光学系统,并在模拟系统中添加Zernike面。以实际成像光路实测得到的点扩散函数为目标,以添加的Zernike面为优化变量,通过智能优化算法不断迭代优化,直到模拟系统的点扩散函数特征参数与实测点扩散函数特征参数的差异小于设定阈值,停止优化。将最终优化得到的Zenrike面与模拟待测
                    
   (19)国家知识产权局 
                             (12)发明专利申请 
                                                     (10)申请公布号 CN 116007906 A 
                                                     (43)申请公布日 2023.04.25 
   (21)申请号  202310088215.2                 
   (22)申请日  2023.02.06 
   (71)申请人  中国科学院长春光
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