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一种芯片安全测试电路及逻辑芯片.pdfVIP

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  • 2023-05-17 发布于四川
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一种芯片安全测试电路及逻辑芯片.pdf

    本发明公开一种芯片安全测试电路及逻辑芯片，该芯片安全测试电路包括设置于芯片上的允许测试管脚；测试管控模块，被配置为根据所述允许测试管脚的输入信号来控制输出的允许测试信号的输出状态，且仅当所述芯片经历全局复位后将输出的允许测试信号转换为有效状态；测试模式控制模块，被配置当所述测试管控模块输出的允许测试信号为有效状态时，根据所述芯片的测试模式接口的输入信号来控制所述芯片的进入测试模式，且仅在所述芯片经历全局复位时控制所述芯片退出测试模式。本发明通过设置一个允许测试管脚，在每次上电复位时选择测试模式和

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114814531 A (43)申请公布日 2022.07.29 (21)申请号 202210348163.3 (22)申请日 2022.03.30 (71)申请人 上海先楫半导体科技有限公司 地址

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