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- 2023-05-17 发布于四川
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本发明提出了一种二进制全光全加器的双故障误差计算方法，该故障误差计算涉及了由n个微环谐振器(MRR)构成逻辑计算电路的双故障模拟装置领域，解决了现有n个MRR构成逻辑计算电路中缺乏深度评判双故障误差的问题。该方法包括，获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果，计算正确输出结果和错误输出结果之间的绝对误差，最大绝对误差，平均绝对误差以及均方误差。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算，具体以由3个MRR构成的二进制全光全加
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114815960 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202210220403.1
(22)申请日 2022.03.08
(71)申请人 桂林电子科技大学
地址 54100
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