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- 2023-05-18 发布于四川
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本发明公开了一种半导体器件的制造方法及半导体器件,包括:提供半导体衬底;在半导体衬底上形成深阱、定义有源区及沉积多晶硅;提供第一光刻版,通过第一光刻版对多晶硅进行刻蚀,形成第一注入窗,注入第一导电类型离子,以形成第一导电类型阱,并在第一导电类型阱中注入高浓度第一导电类型离子;提供第二光刻版,通过第二光刻版对多晶硅进行刻蚀,形成第二注入窗,注入第二导电类型离子,以形成第二导电类型阱,并在第二导电类型阱中注入高浓度第一导电类型离子;提供第三光刻版,进行刻蚀以形成接触孔,并透过接触孔在第二导电类型阱中
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111430243 A
(43)申请公布日
2020.07.17
(21)申请号 20201
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