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一种电子组件老化测试系统、方法.pdfVIP

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  • 2023-05-18 发布于四川
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一种电子组件老化测试系统、方法.pdf

    本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112098753 A (43)申请公布日 2020.12.18 (21)申请号 202010953086.5 (22)申请日 2020.09.11 (71)申请人 北京无线电测量研究所

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