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- 2023-05-23 发布于四川
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本发明所提供的一种MCU的DMA压力测试方法、设备及存储介质，包括：与待测MCU建立连接，按照预先选择的压力测试项目控制待测MCU进行DMA压力测试；当接收到待测MCU发送的启动发送指令时，根据所述启动发送指令获取待测MCU采集的DMA压力测试数据；对所述DMA压力测试数据进行图形显示分析，并将分析后的结果数据进行存储。本发明通过与待测MCU建立连接，通过发送响应的指令来控制待测MCU，使得MCU做出响应的操作，以得出MCU的DMA性能情况，并且，可以选择压力测试项目，提供了更为详细和全面的测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112162890 A
(43)申请公布日 2021.01.01
(21)申请号 202011014185.3
(22)申请日 2020.09.24
(71)申请人 深圳市航顺芯片技术研发有限公司
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