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- 2023-05-23 发布于四川
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本申请公开了一种层叠孔结构及其制作方法,涉及半导体制造领域。该方法包括形成第一金属层间介质层;在第一金属层间介质层中形成第一通孔,第一通孔由竖直结构和碗状结构构成,碗状结构位于竖直结构的上方,碗状结构的开口尺寸大于竖直结构的开口尺寸;填充第一通孔,并在第一通孔中的碗状结构的顶部形成Ti/TiN层;在第一金属层间介质层的表面形成第二金属层间介质层;在第二金属层间介质层中形成第二通孔,第二通孔连接第一通孔,且第二通孔的底部被第一通孔的碗状结构包围;填充第二通孔;解决了较厚的金属层间介质层中的通孔容易
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112164671 A
(43)申请公布日 2021.01.01
(21)申请号 202010943998.4
(22)申请日 2020.09.10
(71)申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司
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