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一种低温下的微波器件S参数测量装置和测量方法.pdfVIP

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  • 2023-05-23 发布于四川
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一种低温下的微波器件S参数测量装置和测量方法.pdf

    本发明提供了一种低温下的微波器件S参数测量装置和测量方法，所述测量装置包括网络分析仪和校准件，其特征在于还设有杜瓦罐、温度传感器和温度监测仪、低温微波开关和微波开关控制器、上位机。其中，校准件、低温微波开关和温度传感器安置在杜瓦罐内；网络分析仪、温度监测仪、微波开关控制器和上位机均安置在杜瓦罐外。基于本发明测量装置，可以在低温下实施SOLT和TRL两种校准方法，通过这两种校准方法可自动扣除低温下辅助测量器件的影响，精确地测出低温下待测微波器件的S参数，并利用两种校准方法获得的测量结果相互验证，判

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112162184 A (43)申请公布日 2021.01.01 (21)申请号 202010944513.3 (22)申请日 2020.09.10 (71)申请人 中国科学院紫金山天文台

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