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本发明公开了一种vSAN性能测试方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括:对待测试vSAN进行VMware认证测试,并获取VMware认证测试生成的日志文件;利用预设关键字从所述日志文件中提取测试单元对应的日志信息;对测试单元对应的日志信息进行分析计算,以确定所述测试单元的持续时间;将所述测试单元的持续时间与预设参考时间进行比较,若所述持续时间大于预设参考时间,则确认所述待测试vSAN在VMware认证测试中执行所述测试单元时阻塞并基于阻塞判断vSAN的性能。本发明的方案具有测试周期短的优
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112187564 A
(43)申请公布日 2021.01.05
(21)申请号 202010930265.7
(22)申请日 2020.09.07
(71)申请人 苏州浪潮智能科技有限公司
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