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2023-05-24 发布于四川
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一种参数校验方法、设备以及存储介质.pdf

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本发明公开了一种参数校验方法、设备以及存储介质。所述方法包括：基于切面技术创建spring切面，拦截待校验方法；获取所述待校验方法对应的至少一个注解标识；基于预设数据结构规则，解析所述注解标识对应的待检验参数；根据所述待校验参数与至少一个所述注解标识的对应关系，对所述待校验参数进行校验。通过上述技术方案，在对待校验参数进行校验的时候，可以利用预设数据结构规则，解析得到各待校验参数分别对应的至少一个注解标识，进而，可以实现对各种待校验参数进行校验，只要符合数据结构规则的参数都可以添加到待校验参数中

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112181804 A (43)申请公布日 2021.01.05 (21)申请号 202010898397.6 (22)申请日 2020.08.31 (71)申请人五八到家有限公司地址

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