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2023-05-24 发布于四川
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芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端.pdf

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一种芯片测试参数异常的侦测方法、存储介质、终端，所述方法包括：获取当前批次芯片的第一测试参数；根据所述第一测试参数计算所述当前批次芯片的边缘芯片比例，其中，所述边缘芯片比例为所述当前批次芯片中边缘芯片的占比，所述边缘芯片是所述第一测试参数的数值落入合格范围但超出边缘范围的芯片；当所述边缘芯片比例与基准边缘芯片比例之差大于第一预设提示值时，确定侦测到芯片测试参数异常，其中，所述基准边缘芯片比例与所述预设测试项相对应。通过本发明方案能够实现对芯片测试参数异常的自动侦测和推送，以在实际出现Bin失效前

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112180230 A (43)申请公布日 2021.01.05 (21)申请号 202010898440.9 (22)申请日 2020.08.31 (71)申请人全芯智造技术有限公司

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