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本申请公开了一种脉冲激光单粒子效应试验等效LET计算方法。该计算方法依据脉冲激光与重离子在器件敏感体积内沉积的电荷量相等时，脉冲激光和重离子对器件引起的单粒子效应是等效的，计算脉冲激光入射器件产生的沉积电荷QL，通过脉冲激光试验获得器件的敏感深度z，则脉冲激光等效LET为：LETL[MeV·cm2/mg]＝(Ep/ρ)×QL[pC]/z[μm]。本申请实现脉冲激光与重离子对器件单粒子效应辐射危害的等效评价，进一步扩展脉冲激光在卫星抗辐射加固技术方面的应用。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112230081 A
(43)申请公布日 2021.01.15
(21)申请号 202010982765.5
(22)申请日 2020.09.17
(71)申请人 兰州空间技术物理研究所
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