基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统及方法.pdfVIP

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2023-05-25 发布于四川
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基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统及方法.pdf

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本发明属于微波材料介电性能测试技术领域，具体提供一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统及方法，用以克服传统谐振法只能对单一谐振点频处待测材料的复介电常数进行测试，无法实现连续扫频。本发明采用重入式同轴腔，利用腔体内部的环状介质扰动块，对腔体内的场进行扰动，实现可调频重入式同轴腔；并根据可调频重入式同轴腔的各个谐振模式下环状扰动块的位置h与微扰公式中比例系数η的函数η(h)、以及可调频重入式同轴腔加载待测样品前后谐振频率和品质因数，利用微扰算法计算出待测样品的复介电常数；即本发明能够实现一

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112230068 A (43)申请公布日 2021.01.15 (21)申请号 202010994425.4 (22)申请日 2020.09.21 (71)申请人电子科技大学地址

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