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本发明公开的一种应用于变压器一体化测试仪的硬件复用方法及系统，运行于变压器一体化测试仪中所有电路板之上，其包括：硬件层、抽象函数层、连接层、控制层、任务调度层和主控层。鉴于一套变压器一体化测试仪中包含了大量的模拟IC，数字IC，以及外围电路，其外围电路决定了上述IC的性能。本发明对于上述的模拟IC和数字IC的外围电路进行复用，从而达成一套芯片，多个功能，多个应用场景的作用。其电路的切换主要采用数码开关进行控制调配。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112256631 A
(43)申请公布日 2021.01.22
(21)申请号 202011251859.1 G06F 3/05 (2006.01)
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