降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构及其制作方法.pdfVIP

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  • 2023-05-26 发布于四川
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降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构及其制作方法.pdf

本发明提供一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构和一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构的制作方法,所述SOI器件结构包括:衬底;形成于所述衬底上的埋氧层;以及形成于所述埋氧层上的有源区;所述有源区划分有栅区以及位于所述栅区两端的源区和漏区,所述栅区下方即所述源区和漏区之间形成有沟道;所述栅区为由二氧化硅层、高K介质层和多晶硅由下而上层叠形成的多晶硅栅极结构;所述源区和漏区上方为源极和漏极;所述栅区与所述源极和漏极之间的器件表面被SiN钝化层覆盖;所述埋氧层由表面向下形成有沟槽,所述沟槽的深度大

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112289852 B (45)授权公告日 2021.05.11 (21)申请号 202011471670.3 张宏涛 任晨 张龙涛 马晓华 

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