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本发明公开一种基于GLINK总线的验证及测试通用系统，包括第一芯片和第二芯片，第一芯片和第二芯片双向连接；所述第一芯片用于构建N个测试通道以得到相应测试数据并发送到第二芯片，所述第二芯片用于对测试数据进行处理并实时显示，N为正整数。通过本发明，可同时验证及测试不同传输介质、不同传输距离、有无均衡器对GLINK总线传输的影响；还可验证相同条件下不同收发器对GLINK总线传输的兼容性以及外置SerDes芯片进行降速传输的可行性；可作为GLINK总线通用测试设备使用，用于检测及测试其它GLINK总线设
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112256512 A
(43)申请公布日 2021.01.22
(21)申请号 202011161261.3
(22)申请日 2020.10.27
(71)申请人 重庆航天工业有限公司
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