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一种红外光学系统的冷反射定量测试方法.pdfVIP

一种红外光学系统的冷反射定量测试方法.pdf

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    本发明涉及一种属于图像处理领域，涉及一种红外光学系统的冷反射定量测试方法。该方法利用红外成像系统探测器对场景信号的探测响应输出，利用可调温度的黑体，完成对红外光学系统中冷反射的定量测试，有效对光学系统中由于设计或加工误差带来的冷反射情况进行定量分析，该方法计算简单，易于工程化实现，且可以直观定量的测量出冷反射对成像的影响，完成对光学系统设计加工的评价，有很重要的工程应用意义。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112284553 A (43)申请公布日 2021.01.29 (21)申请号 202010958480.8 (22)申请日 2020.09.14 (71)申请人 中国航空工业集团公司洛阳电光设

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