芯片测试方法、芯片、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-26 发布于四川
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芯片测试方法、芯片、设备及存储介质.pdf

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本申请提供一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质，属于芯片测试领域该方法包括：获取芯片测试指令，根据芯片测试指令多次向运行的芯片的各核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各核的多个运算结果；根据各核的多个运算结果，从多次输入的midstate字段和随机数中确定各核的目标midstate字段和黄金随机数；获取芯片的测试条件，测试条件包括测试电压和测试时钟；基于测试电压和测试时钟运行所述芯片，并根据各核对应的目标midstate字段和黄金随机数，对芯片进行测试，极大地提高了芯片的测试效率和

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115981935 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202211640793.4 (22)申请日 2022.12.20 (71)申请人北京比特大陆科技有限公司地址