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一种系统级集成电路直流压降的并行分析方法及系统.pdfVIP

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  • 2023-05-26 发布于四川
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一种系统级集成电路直流压降的并行分析方法及系统.pdf

    本发明公开了一种系统级集成电路直流压降的并行分析方法及系统，本发明的并行分析方法利用多个粗颗粒按随机动态分配、先申请先分配的原则进行并行分析，每个粗颗粒独立同步的以层为单位将系统级集成电路划分为相同的多个子系统，对整个系统级集成电路进行相同的网格剖分并建立相同的有限元稀疏矩阵；在处理每个子系统时，每个粗颗粒针对不同的子系统进行处理，将该子系统之外的其他子系统合并为待处理系统，反复利用星形‑三角形变换消去待处理系统的内部节点，获得只包含该子系统场域的有限元稀疏矩阵并进行求解，大大简化了求解过程，在

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112287625 B (45)授权公告日 2021.03.30 (21)申请号 202011513388.7 G06F 30/23 (2020.01) (22)申请日

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