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- 2023-05-27 发布于四川
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本发明涉及芯片技术领域，具体涉及一种多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质，所述方法包括：响应于模数转换指令，将接收到的模拟输入信号转换为多位并行的数字信号；根据双相编码规则对所述多位并行的数字信号进行编码，得到串行数字信号；其中所述双相编码规则为将所述多位并行的数字信号的各码元编码为双位二进制数据，并以多个双位二进制数据作为所述串行数字信号，且所述串行数字信号的任意三位连续数据不同；通过所述多数模转换器芯片的任一输出端口输出所述串行数字信号。所述方法能够减少模数转换器占用芯片输
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115940952 A
(43)申请公布日 2023.04.07
(21)申请号 202310010917.9
(22)申请日 2023.01.05
(71)申请人 南京芯驰半导体科技有限公司
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