测试点验证方法及相关装置.pdfVIP

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  • 2023-05-27 发布于四川
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本申请实施例提供一种测试点验证方法及相关装置,其中测试点验证方法,包括:获取各个待验证测试点,获取各个所述待验证测试点的测试用例,并建立各个所述测试用例和与所述测试用例对应的所述待验证测试点的链接关系,获取各个所述测试用例的仿真结果,并根据所述链接关系,将各个所述测试用例的仿真结果标记至对应的所述待验证测试点,根据各个所述待验证测试点的各个所述测试用例的仿真结果,利用预定的通过率获取规则,获取各个所述待验证测试点的验证通过率。本申请实施例所提供的测试点验证方法及相关装置,能够提高芯片测试点验证的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115983191 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202211502273.7 (22)申请日 2022.11.28 (71)申请人 海光集成电路设计 (北京)有限公司

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