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- 2023-05-27 发布于四川
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本发明涉及图像检测技术领域,具体涉及一种四边形晶片角顶点定位方法。一种四边形晶片角顶点定位方法,包括以下步骤:顺序取原始图像角顶点;从原始图像角顶点出发,搜索四边形晶片角顶点的粗略坐标;搜索四边形晶片角顶点的粗略坐标之间的坐标集合;通过坐标集合来拟合四边形晶片各边的外边线的直线方程;通过直线方程组求解四边形晶片角顶点的精确坐标。解决了灰尘所造成的干扰令微型晶片的高精度尺寸测量面临困难的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115984170 A
(43)申请公布日 2023.04.18
(21)申请号 202211500419.4
(22)申请日 2022.11.28
(71)申请人 广州航海学院
地址 510725
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