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本发明为一种记忆体晶片超频测试方法，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台、机械手臂以及监控装置，测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台与机械手臂视为一个测试装置，而监控装置无线或有线连接测是装置，透过预测试机台做第一阶段筛选，且将资讯上传更新到监控装置，提供终端装置随时读取。藉此达到远端监控、自动化、提高效率、准确度及减少误判。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112317352 B
(45)授权公告日 2022.06.17
(21)申请号 201910717831.3 (56)对比文件
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