数据处理、测试方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2023-05-27 发布于四川
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数据处理、测试方法、装置、设备及存储介质.pdf

本公开实施例提供一种数据处理方法、测试方法、数据处理装置、测试装置、设备及存储介质。其中,所述数据处理方法包括:获取对待测试的芯片集合进行的至少一次测试中每一次测试的第一测试结果;其中,每一次测试的第一测试结果为对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理后得到的;对每一所述第一测试结果进行第二合并处理,得到第二测试结果;基于所述第二测试结果,确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115980541 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202111202049.1 (22)申请日 2021.10.15 (71)申请人 长鑫存储技术有限公司 地址 23

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