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一种复杂集成电路的无损检测系统及方法.pdfVIP

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  • 2023-05-27 发布于四川
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一种复杂集成电路的无损检测系统及方法.pdf

    本发明涉及一种复杂集成电路的无损检测系统及方法，通过X‑ray平板探测器用于采集静止图像，X‑ray线阵探测器用于采集连续成像；并对采集的图像进行处理，利用图像的形状、线型及像素灰度信息，通过处理算法提取信息；最后采集基准集成电路特征建立数据库，通过AI模型提取的信息与数据库中信息进行比对，判定复杂集成电路设计和特征的非法利用行。本发明可对大规模复杂集成电路的特征进行识别、建模和分析，以判定设计和特征的非法利用行为。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115980100 A (43)申请公布日 2023.04.18 (21)申请号 202211501775.8 (22)申请日 2022.11.28 (71)申请人 中国船舶集团有限公司第七〇七研

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