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利用结构光获取检测对象的深度信息的系统和方法.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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利用结构光获取检测对象的深度信息的系统和方法.pdf

    本发明提出了一种利用结构光获取检测对象的深度信息的系统。该系统包括：二维成像装置，用于采集检测对象的二维图像信息；控制器，用于识别二维成像装置所采集的二维图像信息中的特征区域并确定所述特征区域的位置，并且根据所识别的特征区域和所确定的特征区域的位置确定结构光的特征；以及投影装置，将具有所述特征的结构光投影至检测对象，以获取检测对象的深度信息。本发明还提出了一种利用结构光获取检测对象的深度信息的方法。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 109978932 A (43)申请公布日 2019.07.05 (21)申请号 20171

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