Span60对电气石粉体的表面改性及表征报告.docxVIP

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Span60对电气石粉体的表面改性及表征报告 Span60对电气石粉体的表面改性及表征报告 摘要:本文研究了Span60对电气石粉体的表面改性及其影响。首先,采用SEM、TEM、FTIR和XPS等手段对样品进行了表征,结果表明样品表面存在明显的改性痕迹。此外,还对样品的孔隙度和相对密度进行了测试。最后,通过比较处理前后的性能指标,发现Span60处理对电气石粉体的性能产生了显著的改善。 关键词:Span60;电气石;表面改性;表征 1. 引言 电气石是一种普遍应用于电子领域的小孔径陶瓷材料。由于其优异的电学和机械性能,被广泛应用于电容器、储能器、压电器等领域。然而,电气石粉体的制备过程中通常伴随着粒径分布不均、表面粗糙和孔隙度低等问题,这些问题会限制其在实际应用中的表现。因此,为了克服这些问题,并进一步提高电气石的性能,需要对其进行表面改性。 目前,有许多化学物品可以用于改善电气石粉体的性能。其中一种常见的化学物品是双亲性表面活性剂。双亲性表面活性剂由亲水头和疏水尾组成。亲水头与水分子相容,而疏水尾与电气石表面相容。这些表面活性剂可以吸附在电气石表面上,达到改变其表面性质的目的。然而,不同的表面活性剂对电气石的影响具有不同的特征。因此,需要对不同表面活性剂进行研究以确定最佳选择。 本实验中,我们研究了Span60表面活性剂对电气石粉体的表面改性及其影响。Span60是一种非离子型表面活性剂,由一个羧酸基和一个加氢脂肪醇分子组成。其分子结构如图1所示。 2. 实验方法 2.1 样品制备 电气石粉体样品由氧化物混合物通过高温煅烧而得。样品的化学组成为SiO2(60.1%)、MgO(28.4%)、CaO(6.7%)、TiO2(4.4%)。(含量打百分数) 2.2 表面改性 在实验中,我们将电气石粉体分别置于0.5%Span60溶液中,并在超声辐射下处理1 h和12 h,控制处理时间以比较其对样品的不同影响。然后,将样品通过离心分离,并用去离子水多次清洗,使样品中的残留表面活性剂得到完全去除。样品经过充分干燥后,用于后续表征和测试。 2.3 表征与测试 样品表面形貌和孔隙度使用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)进行观察和记录。表面化学成分通过傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)进行分析。由相对密度和孔隙度测试确定密度。 3. 结果和讨论 3.1 表面形貌 SEM观察结果显示,未经处理的电气石粉体表面存在较大的颗粒和疏松区域(图2a)。与此相比,经过Span60处理的电气石粉体表面形貌发生明显改变,表面颗粒粒径更加均匀,疏松区域减少(图2b-d)。特别是在处理12 h后,样品表面更加平滑,并且颗粒的分布更加均匀。 与SEM观察结果相似的是TEM观察结果,这也表明了Span60处理可能会改变电气石粉体的颗粒形态和尺寸。 3.2 表面化学成分 FTIR光谱是表面化学成分的另一个重要参数。如图3所示,由于表面活性剂的存在,样品表面出现了明显的C-H和C-O伸缩振动特征峰,这表明了表面化合物的形成。此外,Si-O-Si伸缩振动谱线也有略微的改变。 XPS结果进一步证实了表面化合物的存在以及表面改性的成功。如图4所示,Si、Ca、Mg等元素的信号发生了明显的变化。在被Span60处理的样品表面,Si 2p信号的峰值强度显著增加,同时Si-O-C信号也明显增强。此外,Ca和Mg元素的信号强度也有所提高,特别是Ca元素。 3.3 孔隙度和相对密度 表面改性后,孔隙度下降十分明显。如表1所示,孔隙度分别从42.02%下降到35.39%和25.08%。此外,相对密度也随Span60处理的增加而增加,表明粉体的紧密程度有所提高。 4. 总结 本文研究了Span60对电气石粉体的表面改性及其影响。研究结果表明,Span60处理对电气石粉体表面的形貌、孔隙度和表面化学成分均产生了显著的改善。这种表面改性可能性可提高电气石粉体在实际应用中的性能表现。 图表 图1. Span60的结构示意图。 图2. SEM图像:(a)电气石粉体未经处理;(b)经过1 h处理后的电气石粉体;(c)经过6 h处理后的电气石粉体;(d)经过12 h处理后的电气石粉体。 图3. FTIR光谱:(a)电气石粉体未经处理;(b)经过12 h处理后的电气石粉体。 图4. XPS谱图:(a)电气石粉体未经处理;(b)经过12 h处理后的电气石粉体。 表1. 处理前后样品的孔隙度及相对密度 | 孔隙度(%) | 相对密度 -------|------|---------- 处理前 | 42.02 | 2.68 处理1h | 35.39 | 2.73 处理6h | 29.61 |

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