SOI-LDMOS器件及其制作方法.pdfVIP

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  • 2023-05-28 发布于四川
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本申请提供了一种SOI‑LDMOS器件及其制作方法,该器件包括SOI衬底、有源区、至少一个第一导通结构以及第二导通结构,其中,SOI衬底包括依次设置的衬底、富陷阱层、埋层氧化层、顶硅层以及栅氧化层;有源区位于顶硅层中,有源区包括体区、体接触区以及源区,体接触区与源区相邻且均位于体区中;第一导通结构位于SOI衬底中,第一导通结构贯穿富陷阱层以及衬底;第二导通结构位于SOI衬底中,且与第一导通结构接触,第二导通结构贯穿栅氧化层、体区、埋层氧化层且与富陷阱层接触,第二导通结构位于体接触区的远离源区的一

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116169171 A (43)申请公布日 2023.05.26 (21)申请号 202111417634.3 (22)申请日 2021.11.25 (71)申请人 苏州华太电子技术股份有限公司 地址

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