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- 2023-05-29 发布于四川
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本发明提供了光栅测试技术领域的一种光栅保护高度测试方法、系统、设备及介质，方法包括如下步骤：步骤S10、将光栅锁附在支架上，获取光栅的保护高度；步骤S20、对光栅传感器的初始位置进行校准；步骤S30、通过伺服电机驱动光栅传感器进行位移，对从光栅射出的光栅信号进行感应；步骤S40、当光栅传感器感应不到光栅信号时，记录伺服电机从初始位置开始的移动距离；步骤S50、基于所述移动距离对保护高度进行校验，并生成测试结果。本发明的优点在于：极大的提升了光栅保护高度测试的质量以及效率，极大的降低了测试成本。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115824587 A
(43)申请公布日 2023.03.21
(21)申请号 202211434033.8
(22)申请日 2022.11.16
(71)申请人 福建星云电子股份有限公司
地址 3
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