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本发明公开了一种通过磁饱和特性测量吸波涂层厚度的方法，先根据激励线圈、铁芯、磁传感器和被测试件等搭建吸波涂层厚度测量模型，测量模型搭建完成后，依次增大激励线圈中的电流，当测量磁性图层达到磁饱和状态时，通过磁传感器测量出设置点处的磁感应强度，并记录下此时的电流，以及移除被测试件后设置点的磁感应强度，然后根据测量模型，构建设置点处的磁感应强度数学模型，最后反解磁感应强度数学模型得到涂层厚度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112432588 B
(45)授权公告日 2021.09.14
(21)申请号 202011422827.3 审查员 王芳芳
(22)申请日 2020.12.08
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